ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)
A ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) digitaliza peças complexas, incluindo as formas geométricas internas no mais alto nível de detalhe. Você obtém uma imagem 3D completa para análises GD&T ou comparações nominal-real. A metrologia por CT é particularmente excelente na digitalização de pequenas peças plásticas.
- Resolução extremamente alta
graças ao detector de raio-X 3k (3008 x 2512 pixels)
- Alta precisão
devido a modelagem matemática da sala de medição
- Posicionamento automático de objetos
por meio de exibição cinemática de 5 eixos ao vivo no software
- Um só software para todas as tarefas
resultando em um fluxo de trabalho consistente e rápido
Revela o que outros sistemas não mostram
ResoluçãoAo digitalizar uma peça, a ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) atinge uma agudeza de detalhe excelente: de um lado, porque usa um detector de raio-X 3k para a aquisição de dados de medição; de outro, porque cada peça é medida na melhor posição de medição possível e, portanto, na mais alta resolução possível. Veja o resultado abaixo: à esquerda, dados de medição gerados com a ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) e, à direita, o padrão normal.
![Measuring data generated with the ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)](https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/gom-ct-good.ts-1587627625507.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=ffd3e39b88093219634b87bf717087fa)
![Not optimized measuring data with ct systems](https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/gom-ct-bad.ts-1587627622456.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=0c84960b05aad92ea2a3aa0168e42900)
![CT system uses mathematical intelligence. CT system uses mathematical intelligence.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=84eb1a44d6c2613880563b02418aa9e3","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=b95dd259abbe4b308ca164e83f71ec6e","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=bbb316e41a03c5c9d845e8a7a7f0e578","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=377a78e8ef5c214e7875949f23971668"})
Garante alta precisão
Para produzir seus dados de medição 3D precisos, a ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) aplica inteligência matemática: combina algoritmos perfeitamente interconectados ao longo da sequência de medição com modelagem digital da sala de medição. Além disso, o sistema conta com estabilidade mecânica otimizada de todos os componentes relevantes para a realização de medições. Conclusão: a partir dos resultados de medição, você pode avaliar a qualidade de uma peça de uma forma verdadeiramente confiável e precisa e realizar outras análises.
Centragelização simplificada da peça
Posicionamento automático de objetos
Uma tabela cinemática de 5 eixos com centralização automática ajuda você a posicionar idealmente a peça no volume de medição. Basta posicioná-la na sala de medição da máquina, e o software se encarrega de todo o resto.
![Part of an in-ear headphone digitized with the ZEISS METROTOM scout 6. Part of an in-ear headphone digitized with the ZEISS METROTOM scout 6.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/zeiss-metrotom-6-scout/earphone-scan.ts-1587459656319.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=084a3b2afd3aa90e056ac197ba1355b5","large":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/zeiss-metrotom-6-scout/earphone-scan.ts-1587459656319.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=dced2a3864cbae9870b90d9e1f465b21","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/zeiss-metrotom-6-scout/earphone-scan.ts-1587459656319.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=793a05786ef2ba0464226817cd50de20","full":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/zeiss-metrotom-6-scout/earphone-scan.ts-1587459656319.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=ab55b4f5a63de257dad040ae20f913c8"})
Um só software para todas as tarefas
O controle do dispositivo e a avaliação metrológica dos dados se combinam em um único pacote de software, dispensando outras etapas de software. A cadeia do processo, do registro dos dados brutos até a inspeção e a criação do relatório de medição, ganha uma grande simplificação.
Avaliação abrangente com o GOM Volume Inspect
O Gom Volume Inspect permite a análise completa dos dados de CT em 3D para avaliar a qualidade da peça e otimizar o processo de manufatura. Imagens seccionais individuais possibilitam que você exiba o volume camada por camada, tornando visíveis até os menores defeitos. Os defeitos detectados podem ser analisados em detalhes e avaliados automaticamente à luz de vários critérios. Além disso, você também pode carregar dados de volume de diversos componentes em um projeto realizar uma análise de tendência e comparar a análises com dados de CAD. Todos os resultados de medição são documentados e, por fim, combinados em um relatório bem estruturado. Operações intuitivas e alto desempenho: a análise de dados de CT nunca foi tão fácil!
![Complete CT data analysis in 3D with software GOM Volume Inspect Complete CT data analysis in 3D with software GOM Volume Inspect]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/snapshot01_1920.ts-1588846176470.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=67d5497d079a21d8e9668f0d10b2800b","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/snapshot01_1920.ts-1588846176470.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=8555d354001fd404969afd442d354a15","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/snapshot01_1920.ts-1588846176470.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=b21d83ef6cac6e2d540a3480142d6c3c","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/snapshot01_1920.ts-1588846176470.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=2c73df3a0739b74ed6c7d14b2dfd379c"})
Dados técnicos
RecursosFonte de raio-X |
225 kV |
Detector de raio-X |
Resolução: 3008 x 2512 pixels |
Área de medição |
d:240 mm h: 400 mm |
Tamanho do voxel |
2 µm - 80 µm |
Dimensão |
A. 2210 mm |
Peso |
4800 kg |
Áreas de aplicação |
inspeção de primeiro artigo, correção de ferramenta, inspeção durante produção em curso |
Características da inspeção |
estruturas internas, espessura de parede, defeitos de material, poros e cavidades de encolhimento |
Tarefas de medição |
Análise GD&T, comparação nominal-real, análise de montagem |